UV-313单通道紫外辐照计 光化学高分子材料老化照度测定仪
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产品描述

产品规格便携式包装说明纸箱产地青岛


产品介绍

UV-313型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

性能特点

1、光谱及角度特性经严格校正

2、数字液晶显示,带背光

3、手动/自动量程切换

4、数字输出接口(USB,冗余供电)

5、低电量提醒

6、自动延时关机

7、有数字保持

8、轻触按键操作,蜂鸣提示

技术参数

项目 

参数

波长范围λ1,峰值波长λp

290~340)nm,λP=313nm

辐照度测量范围

(0.1~199.9×103) μW/cm2

紫外带外区杂光

UV254<0.1%,UV297<0.05%

零值误差(满量程FS)

<满量程的±1.0%

长波响应误差

<15%

余弦特性(方向性响应)误差

<10%

非线性误差

<±1.5%

换档误差

±1%

疲劳误差

<3.0%

相对示值误差

<±8.0%(相对于NIM标准)

响应时间

<1秒

使用环境

温度(0~40)℃;湿度<85%RH

尺寸和重量

160mm×78mm×43mm;0.2kg

电源

6F22型9V积层电池(非充电电池)

整机功耗

0.1VA

配置

主机、313探头、探头盖、数据线、说明书、合格证、9V电池等

 

 

 

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